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基于单片机控制的接触电阻自动检测仪的研究

朱琴跃,  邵德荣,  侯唐弟

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文章导航 > 交通信息与安全  > 2004 >  22(5): 105-107
朱琴跃, 邵德荣, 侯唐弟. 基于单片机控制的接触电阻自动检测仪的研究[J]. 交通信息与安全, 2004, 22(5): 105-107. doi: 10.3963/j.issn.1674-4861.2004.05.030
引用本文: 朱琴跃, 邵德荣, 侯唐弟. 基于单片机控制的接触电阻自动检测仪的研究[J]. 交通信息与安全, 2004, 22(5): 105-107. doi: 10.3963/j.issn.1674-4861.2004.05.030
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Research into a Singlechip-based Contact Resistance Autotester[J]. Journal of Transport Information and Safety, 2004, 22(5): 105-107. doi: 10.3963/j.issn.1674-4861.2004.05.030
Citation: Research into a Singlechip-based Contact Resistance Autotester[J]. Journal of Transport Information and Safety, 2004, 22(5): 105-107. doi: 10.3963/j.issn.1674-4861.2004.05.030
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基于单片机控制的接触电阻自动检测仪的研究

doi: 10.3963/j.issn.1674-4861.2004.05.030

  • 同济大学,上海,200331

  • 同济大学,上海,200331

  • 同济大学,上海,200331

详细信息

  • 中图分类号: U4

Research into a Singlechip-based Contact Resistance Autotester

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出版历程
  • 刊出日期:  2004-10-28

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